真理光学技术团队具有超过二十年粒度表征及应用开发的经验，曾研发出中国第一台商用激光粒度分析仪。LT3600系列和LT2200系列是真理光学基于多年的科研成果并融合多项专利技术开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，为全球激光粒度分析行业树立了新标杆。LT3600系列和LT2200系列粒度仪被广泛用于磨料，制药，化工，电池材料，地质，水文等行业的颗粒粒度表征分析。
针对电池材料行业用户的电池材料粒度粒形检测需求，真理光学开发的新一代LT系列激光粒度仪加持了如下技术研究成果：
（1）发现爱里斑的反常变化（ACAD）规律及其对粒度测量的影响，解决了ACAD现象对光能数据反演的干扰。
（2）独创的偏振空间滤波技术
（3）斜置梯形窗口技术。
（4）统一的散射光能反演算法，免除了用户必须选择反演模式，而不同模式有不同结果的困扰。
（5）分散系统双电机驱动及液位连续监控。
为电池材料粒度粒形测试提供可靠保证和稳定数据支撑。
